Producentens produktnummer:
SN74LVTH18646APM
Product Overview
Producent:
Texas Instruments
Delnummer:
SN74LVTH18646APM-DG
Beskrivelse:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Detaljeret Beskrivelse:
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers IC 64-LQFP (10x10)
Lager:
305 Stk Nye Originaler På Lager
1862955
Anmod om tilbud
Mængde
Minimum 1
Minimum 1
(*) er obligatorisk
Vi vender tilbage til dig inden for 24 timer
Vi vender tilbage til dig inden for 24 timer
INDSEND
SN74LVTH18646APM Tekniske specifikationer
Kategori
Logik, Specialiseret logik
Producent
Texas Instruments
Emballage
Tray
Serie
74LVTH
Produkt status
Active
Logisk type
ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Forsyningsspænding
2.7V ~ 3.6V
Antal bits
18
Driftstemperatur
-40°C ~ 85°C
Monteringstype
Surface Mount
Pakke / etui
64-LQFP
Pakke med leverandørenheder
64-LQFP (10x10)
Basis produktnummer
74LVTH18646
Datablad og dokumenter
Datablade
Yderligere Information
Standard pakke
160
Andre navne
-296-8703-DG
-296-8703
-SN74LVTH18646APMG4
2156-SN74LVTH18646APM
296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APM-NDR
296-8703
SN74LVTH18646APMG4
SN74LVTH18646APMG4-DG
TEXTISSN74LVTH18646APM
-296-8703-NDR
-SN74LVTH18646APMG4-NDR
Miljø- og eksportklassificering
RoHS-status
ROHS3 Compliant
Fugtfølsomhedsniveau (MSL)
3 (168 Hours)
REACH-status
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI-certificering
Relaterede produkter
SN74LVTH18646APMG4
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74TVC3010DBQR
IC PROG V CLAMP 24-QSOP
V62/04730-01XE
ENHANCED PRODUCT 3.3-V ABT SCAN